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    激光椭偏仪

     

     

    多角度激光椭偏仪SE 400adv

    亚埃精度

    稳定的氦氖激光器保证了0.1埃精度的超薄单层薄膜厚度测量。

    扩展激光椭偏仪的极限

    性能优异的多角度手动角度计和角度精度优越的激光椭偏仪允许测量单层薄膜和层叠膜的折射率、消光系数和膜厚。

    高速测量

    我们的激光椭偏仪SE 400adv的高速测量速度使得用户可以监控单层薄膜的生长和终点检测,或者做样品均匀性的自动扫描。

    结合椭偏反射CER的SE 500adv

    厚度确定

    椭偏测量和反射测量的结合允许通过自动识别循环厚度周期来快速且明确地确定透明膜的厚度。

    宽的测量范围

    激光椭偏仪和反射仪的结合将透明薄膜的厚度范围扩展到25μm,更多地取决于光度计的选项。

    扩展激光椭偏仪的极限

    性能优异的多角度手动角度计和角度精度优越的激光椭偏仪允许测量单层薄膜和层叠膜的折射率、消光系数和膜厚。

     
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